HCC-24磁阻法測厚儀概述：

HCC-24磁阻法測厚儀

本儀器采用電磁感應原理進行測量， 符合標準ISO2178和國家標準GB/T4956。當探頭與覆蓋層接觸時，探頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路，  由于非磁性覆蓋層存在， 使磁路磁阻增加， 磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。通過對磁阻的測量， 經(jīng)電腦進行分析處理， 由液晶顯示器直接顯示出測量值。

2  技術參數(shù)

1）測量范圍： 0μm～1200μm。

2）示值誤差：±((1~3)%H+1μm） H為被測涂層厚度。

3）分辨率：1μm。

4）小測量面的直徑：  φ10mm。顯示窗主機2

5）顯      示：4位LCD顯示測量的次數(shù)、平均值、大值、小值，同時指示儀器的工作狀態(tài)及電池使用情況。

6）電     源：一節(jié)6F22型9V電池。

7）外形尺寸：160 mm×80 mm×30mm。

8）質(zhì)     量：約250g。

9）使用環(huán)境：溫度0℃～40℃；相對濕度不大于90%。

3  儀器外型

為了保證儀器正常工作并獲得佳工作狀態(tài)， 請注意以下2個使用細節(jié)：

1.在儀器開機時，使探頭遠離被測件和其它鐵磁性物體（10cm以上），直到儀器顯示“0μm”為止。

2.每次測試后，盡量上提探頭，使其遠離被測件，這樣會使儀器處于良好的環(huán)境適應狀態(tài)。

6  正式測試前的準備工作

用戶購買HCC-24 磁阻法測厚儀后的新儀器在進行實際使用前， 都必須要進行儀器的校正， 這是保證儀器達到標稱精度的重要保證，請務必重視。儀器有多種校正方法， 使用很靈活， 用戶可根據(jù)實際需要選擇如下一種方式：

1） 全范圍高準確度的傳統(tǒng)校正法

用戶通過隨機配備的三個不同厚度的試片和裸基體完成校正，具體步驟如下：

步驟一

在儀器處于開機后的狀態(tài)時， 按一下 “校正CAL”鍵，儀器屏上會出現(xiàn)“CAL”，同時會顯示一個數(shù)值，該數(shù)值如果不為“0”，按“>”鍵，直到該數(shù)值由大到小變到“0”為止。然后將探頭放在裸基體的測試面上進行測試（注意， 這里的裸基體一定要和實際被測物的材料和形狀*相同。 不要使用隨機配備的標準金屬基塊， 那只能用來驗證儀器本身工作是否正常， 不能用來校正儀器） 。 可以測試幾下， 待儀器上顯示的數(shù)值基本穩(wěn)定后， 按一下“校正CAL”鍵，儀器的零點便校正完畢，它會顯示一個新的數(shù)值。

步驟二

該試片平放在裸基體上，探頭再壓在上面進行測試，可以重復幾次。待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按一下“校正CAL”鍵，個試片的校正結(jié)束，儀器又顯示下一個校正片的厚度值。

步驟三

用步驟二相同的方法， 只是所用試片要換成厚度200μ m左右的那一片。

步驟四

依然和步驟二相同， 但所用的試片要換成1200μm左右的那一片。到這個步驟的后階段，按一下“校正CAL”鍵， 儀器屏上還會繼續(xù)顯示一個校正片的厚度值， 如“1999”，不用再做下去了，再按一下“校正CAL”鍵，校正便全部結(jié)束了。 這時的儀器便可以進行高準確度的實際測量了。

在以后使用時，如果有必要，可以再次做上面四個步驟的校正。 儀器會記住了上次的零點和每個試片的厚度值， 這樣就可以根據(jù)儀器提示， 不用再修正試片厚度值，便能輕松完成各個步驟。

2）上下限校正法

在大多數(shù)情況下， 用戶使用本儀器測試的對象有一定的共性， 如材料和形狀相同， 涂層厚度也局限在某個范圍內(nèi)， 此時用戶關心的也許是被測對象的涂層是否超差。 如果這些條件成立， 那么就沒有必要使用上面多步驟的傳統(tǒng)校正法， 而只需要運用上下限校正便能很好地完成使命。

本方法只需要兩個步驟校正兩點，當然，這兩點好直接選用用戶被測件涂層允許范圍中的小和大厚度。這樣校正的結(jié)果， 儀器在這兩個校正點上的精度非常高，甚至比上面?zhèn)鹘y(tǒng)的校正還要好。 要實現(xiàn)這一點， 用戶首先要設法獲得符合這兩個校正點厚度的試片， 可以向本公司提出購買特殊試片的要求， 也可以自行尋找符合條件的樣品。 于苛求試片或樣品的厚度值與理想的校正點*相符。 有了這兩個厚度片或?qū)嶋H樣品后， 校正便可按如下步驟進行：

步驟一

先校正兩者中較小的那個厚度值。 在儀器開機后的狀態(tài)下，按一下“校正CAL”鍵，用“<”或“>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值， 使其和兩點中較小的那個厚度值一致。然后，在裸基體上平放對應厚度的試片，探頭再壓上進行測試。如果是樣品，那么直接測試該樣品。可以重復幾次測試，待儀器顯示的測試值穩(wěn)定后，按一下“校正CAL”鍵，該點的校正便完成，儀器進入下一點校正。

步驟二

接上一步驟，用“<”、  “>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值， 使其和兩點中較大的那個厚度值一致。 按步驟一同樣的方法， 用另一塊對應的試片或樣品進行測試， 待儀器顯示的測量值穩(wěn)定后，按兩次“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），上下限的校正便完成了。

如果以后還要做同樣的上下限校正， 借助儀器已經(jīng)記住的兩個校正點厚度值， 能進一步讓用戶省去上面兩個步驟中調(diào)整厚度的那部分操作， 使用將更加便捷。

3）單點校正法

有時候，受條件限制，譬如被測體是個凹面，無法使用很難彎曲的厚試片進行校正； 或者用戶接觸到的涂層厚度局限在一個相對較小的范圍內(nèi)。 此時， 只能或只需要用一個校正點。這個校正點可以是裸基體（零點），也可以是某個任意涂層厚度的樣品。 如果用戶的接觸到的被測件涂層厚度在某個較小范圍內(nèi)， 如100μ m左右， 那么這個校正點選100μ m是合適的。 校正點定好以后就可以開始校正了， 只有如下一個步驟：

在儀器開機后的狀態(tài)下，按一下“校正CAL”鍵，用“<”或“>”鍵調(diào)整儀器顯示的厚度值，使其為“0”或與樣品的厚度值一致。 然后， 將探頭直接放在裸基體上進行測試。 如果是樣品， 那么直接測試該樣品。 可以重復測幾次，待儀器顯示的測試值穩(wěn)定后，按兩下“校正CAL”鍵（后一次按鍵使儀器退出校正過程），單點校正便完成了。

同樣， 如果以后還要做同樣的單點校正， 借助儀器已經(jīng)記住的校正點厚度值， 能進一步讓用戶省去上面步驟中調(diào)整厚度的那部分操作，使用將更加便捷。

相對于上面的幾種方法， 本校正法的操作簡單。 但代價是儀器的測試精度在遠離校正點處可能會有所降低。用戶可以不妨試用一下本校正法， 以便判斷它能否滿足實際的測試要求。

4）任意多個校正點校正法

如果用戶接觸到的被測物件形狀比較特殊， 而且涂層厚度的范圍也比較大， 同時精度又有更高的要求， 那么用戶可以自行挑選多個校正點 （多10個） 進行校正， 儀器允許的校正點厚度為0～1999μm。有一點請注意，在實際進行校正的過程中， 多個厚度執(zhí)行順序必須由小到大依次進行。具體的操作步驟和上面的傳統(tǒng)校正法類似， 此處就不再重復了。

9  儀器的日常維護

1）儀器使用完畢后，應放入清潔、干燥的儲存箱里，避免沖擊和振動。

2）探頭應避免敲擊和強烈振動并保持清潔，被測物上的污物在測量前必須被清除。

3） 儀器長時間不用時， 應取出電池， 以免電池漏液損壞儀器。